(2)顯微鏡法：顆粒粒徑分析儀測量與實(shí)際顆粒投進(jìn)面積相同的球形顆粒的直徑即等效投影面積直徑。包括顯微鏡、CCD攝像頭(或數(shù)碼像機(jī))、圖形采集卡、計(jì)算機(jī)等部分組成。它的基本工作原理是將顯微鏡放大后的顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中，由計(jì)算機(jī)對這些圖像進(jìn)行邊緣識別等處理，計(jì)算出每個顆粒的投影面積，根據(jù)等效投影面積原理得出每個顆粒的粒徑，再統(tǒng)計(jì)出所設(shè)定的粒徑區(qū)間的顆粒的數(shù)量，就可以得到粒度分布了。

　　由于這種方法單次所測到的顆粒個數(shù)較少，對同一個樣品可以通過更換視場的方法進(jìn)行多次測量來提高測試結(jié)果的真實(shí)性。除了進(jìn)行粒度測試之外，它還常用來觀察和測試顆粒的形貌

　　(3)刮板：顆粒粒徑分析儀把樣品刮到一個平板的表面上，觀察粗糙度，以此來評價樣品的粒度是否合格。此法是涂料行業(yè)采用的一種方法。

　　(3)沉降法：依據(jù)顆粒的沉降速度作等效對比，所測的粒徑為等效沉速徑，即用與被測顆粒具有相同沉降速度的同質(zhì)球形顆粒的直徑來代表實(shí)際顆粒的大小。有簡單的沉降瓶法和按此原理設(shè)計(jì)的粒度儀。例如一種納米顆粒粒度分析儀采用的是差示沉淀法進(jìn)行顆粒粒度的測量和分析。樣品被注入到高速旋轉(zhuǎn)的液體中，然后在離心力的作用下，樣品被快速沉淀并通過檢測頭被檢測并拾取。因?yàn)榇笮〔煌念w粒到達(dá)檢測頭的時間不同，因此通過記錄顆粒到達(dá)檢測頭的時間，就可以知道顆粒的大小，

　　(4)電阻法：電阻法又叫庫爾特法，是由美國一個叫庫爾特的人發(fā)明的一種粒度測試方法。這種方法是根據(jù)顆粒在通過一個小微孔的瞬間，占據(jù)了小微孔中的部分空間而排開了小微孔中的導(dǎo)電液體，使小微孔兩端的電阻發(fā)生變化的原理測試粒度分布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。當(dāng)不同大小的粒徑顆粒連續(xù)通過小微孔時，小微孔的兩端將連續(xù)產(chǎn)生不同大小的電阻信號，通過計(jì)算機(jī)對這些電阻信號進(jìn)行處理就可以得到粒度分布了。

　　(5)激光衍射：顆粒粒徑分析儀利用顆粒對激光的散射特性作等效對比，所測出的等效粒徑為等效散射粒徑，即用與實(shí)際被測顆粒具有相同散射效果的球形顆粒的直徑來代表這個實(shí)際顆粒的大小。當(dāng)被測顆粒為球形時，其等效粒徑就是它的實(shí)際直徑。一般認(rèn)為激光法所測的直徑為等效體積徑。該方法測定速度快，不過從原理上講顆粒越小，衍射角越大，因此它可能更適合小顆粒。

　　(6)透氣法：透氣法也叫弗氏法。先將樣品裝到一個金屬管里并壓實(shí)，將這個金屬管安裝到一個氣路里形成一個閉環(huán)氣路。顆粒粒徑分析儀當(dāng)氣路中的氣體流動時，氣體將從顆粒的縫隙中穿過。如果樣品較粗，顆粒之間的縫隙就大，氣體流邊所受的阻礙就小；樣品較細(xì)，顆粒之間的縫隙就小，氣體流動所受的阻礙就大。透氣法就是根據(jù)這樣一個原理來測試粒度的。這種方法只能得到一個平均粒度值，不能測量粒度分布。這種方法主要用在磁性材料行業(yè)。

　　(7)超聲波法：通過不同粒徑顆粒對超聲波產(chǎn)生不同的影響的原理來測量粒度分布的一種方法。它可以直接測試固液比達(dá)到70%的高濃度漿料。

　　(8)相關(guān)法：用光子相關(guān)原理測量粒度的一種方法，主要用來測量納米材料的粒度分布。