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原來激光衍射粒度分析儀還可以用這種方式進(jìn)行工作
點(diǎn)擊次數(shù)：1282 更新時(shí)間：2019-10-14
激光衍射粒度分析儀是一款粒度分析儀器。該儀器引入了先進(jìn)的光學(xué)設(shè)計(jì)，結(jié)合歐美克近30年的技術(shù)積累，采用化的供應(yīng)鏈體系，使激光衍射法的測試范圍達(dá)0.01-3600um，代表了當(dāng)前國產(chǎn)激光粒度儀的技術(shù)水平。激光衍射粒度分析儀保持了原有的量程寬、重復(fù)性好、分辨力高、真實(shí)測試性能強(qiáng)和智能化程度高等優(yōu)點(diǎn)，通過進(jìn)一步提升光學(xué)設(shè)計(jì)、硬件和反演算法，拓展了其測試范圍以及實(shí)際測試性能，應(yīng)用遍及化工、機(jī)械、建材、能源、醫(yī)藥等現(xiàn)代工業(yè)的各個(gè)領(lǐng)域。
在鋰離子電池、制藥、水文和精細(xì)化工等諸多行業(yè)，很多用戶選擇歐美克激光粒度儀，尤其是激光衍射粒度分析儀，除了對歐美克品牌和技術(shù)的信賴外，還因?yàn)槠錅y試結(jié)果準(zhǔn)確。不管是制藥用的原材料、制劑還是鋰離子電池正負(fù)極材料等，激光衍射粒度分析儀保證了測試結(jié)果和分析能力與國內(nèi)外、行業(yè)上下游黃金標(biāo)準(zhǔn)保持一致，這不僅為用戶節(jié)省了方法開發(fā)和方法轉(zhuǎn)移上的時(shí)間和成本，更重要的是可避免粒徑檢測不準(zhǔn)帶來的經(jīng)濟(jì)損失和風(fēng)險(xiǎn)，無論在研發(fā)、過程控制還是質(zhì)量控制上，都能夠?yàn)橛脩魩碚嬲膬r(jià)值。
激光衍射粒度分析儀的工作原理：
一束平行光在傳播過程中遇到障礙物顆粒，光波會(huì)發(fā)生散射（衍射）偏轉(zhuǎn)，偏轉(zhuǎn)的角度跟顆粒的大小相關(guān)，散射（衍射）現(xiàn)象可以通過“Mie散射理論”來描述。顆粒粒徑越大，光波偏轉(zhuǎn)的角度越小；顆粒粒徑越小，光波偏轉(zhuǎn)角度越大。激光粒度分析儀就是利用顆粒對光的散射現(xiàn)象，根據(jù)散射光能的分布推算被測顆粒的粒度分布。
歐美克結(jié)合了源自國內(nèi)外的先進(jìn)技術(shù)，通過對光學(xué)、算法、機(jī)械、電子、計(jì)算機(jī)等系統(tǒng)的整合和優(yōu)化，使歐美克激光粒度儀具備重復(fù)性良好、動(dòng)態(tài)測量范圍寬廣、操作簡單方便等優(yōu)點(diǎn)。
激光衍射粒度分析儀的主要特點(diǎn)：
1、儀器配有自檢診斷功能，測試過程中隨時(shí)顯示測量情況。
2、升級(jí)版PIDS技術(shù)提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實(shí)現(xiàn)10nm下限峰值測量。
3、PIDS技術(shù)不僅可以直接檢測小至10nm的顆粒，而且還可以直接檢測納米級(jí)的多峰分布。
4、新一代固體激光光源，無需預(yù)熱，7萬小時(shí)以上開機(jī)使用壽命。
5、并行式信號(hào)采集與傳輸，確保信號(hào)保持高信噪比、無時(shí)差、高通量。
6、多波長和偏振光分析技術(shù)令粒度分布在寬動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)的準(zhǔn)確性分析獲得高度保障。
7、ADAPT軟件自動(dòng)對測量結(jié)果標(biāo)準(zhǔn)綠色或紅色，自動(dòng)合格/不合格管理，實(shí)現(xiàn)直接質(zhì)控。
8、全自動(dòng)運(yùn)算分析功能，多峰自動(dòng)檢測，無需事先猜測峰型，無需選擇分析模型，提供客觀的報(bào)告。
9、新一代觸摸屏設(shè)計(jì)ADAPT分析軟件，操作更直觀，無需操作經(jīng)驗(yàn)，簡單三步完成測量，直觀醒目的導(dǎo)航輪，僅需一步實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)顯示與導(dǎo)出。
10、軟件配有強(qiáng)大的光學(xué)參數(shù)數(shù)據(jù)庫，具有創(chuàng)新的Zero-Time即時(shí)光學(xué)模型系統(tǒng)，只需一秒即可建立新的光學(xué)模型，提供客觀準(zhǔn)確的分析報(bào)告。
11、檢測器數(shù)量更多，高達(dá)132枚獨(dú)立物理位置檢測器，對應(yīng)高達(dá)136個(gè)真實(shí)數(shù)據(jù)通道，能夠清晰區(qū)分不同粒度等級(jí)間散射光強(qiáng)譜圖差異，確保不缺漏絲毫信息，快速、準(zhǔn)確的真實(shí)粒度測量。
