美國貝克曼庫爾特公司*技術

          ----高濃度ZETA電位分析儀

     納米技術與基因技術、網(wǎng)絡技術一起被并稱為二十一世紀的“三劍客"，各國在納米材料的研究上均投入了極大的人力物力。中國已建立3個*的納米研究中心。
    納米顆粒的表征主要集中在粒徑與表面電勢。Zeta電位可以很好地反映顆粒間作用強度，從而可用來預測膠體系統(tǒng)的穩(wěn)定性。分散體系的Zeta電位會因為Ph值、電導率、添加劑和顆粒表面的變化而改變。
    一直以來，市場上電泳光散射儀器由于采用背散射技術，只能測量稀溶液樣品，不能進行原液或高濃度樣品的測量。因為背散射技術樣品測量時因存在多重散射，而無法獲得足夠的分辨率。顆粒的zeta電位極易因環(huán)境影響而改變，簡單稀釋往往會改變zeta電位。測到的結果甚至與原有的zeta電位無關。
    DelsaNano HC 采用的FST技術（透明電極正向散射），很好地解決了由低濃度到高濃度樣品Zeta電位的測量的難題。DelsaNnao高濃度Zeta
電位分析儀是已知的惟一能夠測量濃縮樣品中微粒zeta電位分布的技術。使
的Zeta的應用不再受到局限！
    貝克曼庫爾特公司將因推出DelsaNano分析儀而再度于同業(yè)！